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LED過電沖擊的 兩種常見癥狀
2022-08-31 16:31
1、焊接線損壞
因 EOS 而導致的其中一種常見失效模式是 LED 封裝內部的焊接線受損，如下圖 1 所示。這種損壞通常表現為接線燒毀或燒斷。此外，EOS 事件還能導致靠近焊接線的其它材料損壞，例如密封材料或熒光體。
2、焊盤附近損壞
因 EOS 而導致的另一種常見失效模式是 LED 芯片本體靠近焊盤的位置受損，如下圖 2 所示
1、焊接線損壞
因 EOS 而導致的其中一種常見失效模式是 LED 封裝內部的焊接線受損，如下圖 1 所示。這種損壞通常表現為接線燒毀或燒斷。此外，EOS 事件還能導致靠近焊接線的其它材料損壞，例如密封材料或熒光體。
2、焊盤附近損壞
因 EOS 而導致的另一種常見失效模式是 LED 芯片本體靠近焊盤的位置受損，如下圖 2 所示
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